Pheda 动态 CMOS 平板探测器
低剂量,低的剂量获得更清晰的图像;
- 多档位,四档增益自由切换,满足不同应用场景;
- 大范围,宽动态范围,可达 76dB;
- 全实时,全分辨率和全视野下的实时成像;
- 高标准,标准的 GigE Vision 协议;
- 适应性,支持 Binning 模式,满足复杂的工业应用需求;
Application 应用领域
- 芯片与印刷电路检测
- 精密铸件与锻件检测
- 汽车、航空领域质量控制
- 电池生产无损检测
- 管道探伤与焊点检测
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Pheda 动态 CMOS 平板探测器
详细信息 Pheda 动态 CMOS 平板探测器 低剂量,低的剂量获得更清晰的图像; - 多档位,四档增益自由切换,满足不同应用场景; - 大范围,宽动态范围,可达 76dB; - 全实时,全分辨率和全视野下的实时成像; - 高标准,标准的 GigE Vision 协议; - 适应性,支持 Binning 模式,满足复杂的工业应用需求; Application 应用领域 - 芯片与印刷电路检测 - 精密铸件与锻件检测 - 汽车、航空领域质量控制 - 电池生产无损检测 - 管道探伤与焊点检测 |